]> git.kernelconcepts.de Git - karo-tx-uboot.git/blob - drivers/mtd/onenand/onenand_bbt.c
arm: factorize relocate_code routine
[karo-tx-uboot.git] / drivers / mtd / onenand / onenand_bbt.c
1 /*
2  *  linux/drivers/mtd/onenand/onenand_bbt.c
3  *
4  *  Bad Block Table support for the OneNAND driver
5  *
6  *  Copyright(c) 2005-2008 Samsung Electronics
7  *  Kyungmin Park <kyungmin.park@samsung.com>
8  *
9  *  TODO:
10  *    Split BBT core and chip specific BBT.
11  *
12  * This program is free software; you can redistribute it and/or modify
13  * it under the terms of the GNU General Public License version 2 as
14  * published by the Free Software Foundation.
15  */
16
17 #include <common.h>
18 #include <linux/compat.h>
19 #include <linux/mtd/mtd.h>
20 #include <linux/mtd/onenand.h>
21 #include <malloc.h>
22
23 #include <asm/errno.h>
24
25 /**
26  * check_short_pattern - [GENERIC] check if a pattern is in the buffer
27  * @param buf           the buffer to search
28  * @param len           the length of buffer to search
29  * @param paglen        the pagelength
30  * @param td            search pattern descriptor
31  *
32  * Check for a pattern at the given place. Used to search bad block
33  * tables and good / bad block identifiers. Same as check_pattern, but
34  * no optional empty check and the pattern is expected to start
35  * at offset 0.
36  */
37 static int check_short_pattern(uint8_t * buf, int len, int paglen,
38                                struct nand_bbt_descr *td)
39 {
40         int i;
41         uint8_t *p = buf;
42
43         /* Compare the pattern */
44         for (i = 0; i < td->len; i++) {
45                 if (p[i] != td->pattern[i])
46                         return -1;
47         }
48         return 0;
49 }
50
51 /**
52  * create_bbt - [GENERIC] Create a bad block table by scanning the device
53  * @param mtd           MTD device structure
54  * @param buf           temporary buffer
55  * @param bd            descriptor for the good/bad block search pattern
56  * @param chip          create the table for a specific chip, -1 read all chips.
57  *              Applies only if NAND_BBT_PERCHIP option is set
58  *
59  * Create a bad block table by scanning the device
60  * for the given good/bad block identify pattern
61  */
62 static int create_bbt(struct mtd_info *mtd, uint8_t * buf,
63                       struct nand_bbt_descr *bd, int chip)
64 {
65         struct onenand_chip *this = mtd->priv;
66         struct bbm_info *bbm = this->bbm;
67         int i, j, numblocks, len, scanlen;
68         int startblock;
69         loff_t from;
70         size_t readlen, ooblen;
71         struct mtd_oob_ops ops;
72         int rgn;
73
74         printk(KERN_INFO "Scanning device for bad blocks\n");
75
76         len = 1;
77
78         /* We need only read few bytes from the OOB area */
79         scanlen = ooblen = 0;
80         readlen = bd->len;
81
82         /* chip == -1 case only */
83         /* Note that numblocks is 2 * (real numblocks) here;
84          * see i += 2 below as it makses shifting and masking less painful
85          */
86         numblocks = this->chipsize >> (bbm->bbt_erase_shift - 1);
87         startblock = 0;
88         from = 0;
89
90         ops.mode = MTD_OOB_PLACE;
91         ops.ooblen = readlen;
92         ops.oobbuf = buf;
93         ops.len = ops.ooboffs = ops.retlen = ops.oobretlen = 0;
94
95         for (i = startblock; i < numblocks;) {
96                 int ret;
97
98                 for (j = 0; j < len; j++) {
99                         /* No need to read pages fully,
100                          * just read required OOB bytes */
101                         ret = onenand_bbt_read_oob(mtd,
102                                              from + j * mtd->writesize +
103                                              bd->offs, &ops);
104
105                         /* If it is a initial bad block, just ignore it */
106                         if (ret == ONENAND_BBT_READ_FATAL_ERROR)
107                                 return -EIO;
108
109                         if (ret || check_short_pattern
110                             (&buf[j * scanlen], scanlen, mtd->writesize, bd)) {
111                                 bbm->bbt[i >> 3] |= 0x03 << (i & 0x6);
112                                 printk(KERN_WARNING
113                                        "Bad eraseblock %d at 0x%08x\n", i >> 1,
114                                        (unsigned int)from);
115                                 break;
116                         }
117                 }
118                 i += 2;
119
120                 if (FLEXONENAND(this)) {
121                         rgn = flexonenand_region(mtd, from);
122                         from += mtd->eraseregions[rgn].erasesize;
123                 } else
124                         from += (1 << bbm->bbt_erase_shift);
125         }
126
127         return 0;
128 }
129
130 /**
131  * onenand_memory_bbt - [GENERIC] create a memory based bad block table
132  * @param mtd           MTD device structure
133  * @param bd            descriptor for the good/bad block search pattern
134  *
135  * The function creates a memory based bbt by scanning the device
136  * for manufacturer / software marked good / bad blocks
137  */
138 static inline int onenand_memory_bbt(struct mtd_info *mtd,
139                                      struct nand_bbt_descr *bd)
140 {
141         unsigned char data_buf[MAX_ONENAND_PAGESIZE];
142
143         bd->options &= ~NAND_BBT_SCANEMPTY;
144         return create_bbt(mtd, data_buf, bd, -1);
145 }
146
147 /**
148  * onenand_isbad_bbt - [OneNAND Interface] Check if a block is bad
149  * @param mtd           MTD device structure
150  * @param offs          offset in the device
151  * @param allowbbt      allow access to bad block table region
152  */
153 static int onenand_isbad_bbt(struct mtd_info *mtd, loff_t offs, int allowbbt)
154 {
155         struct onenand_chip *this = mtd->priv;
156         struct bbm_info *bbm = this->bbm;
157         int block;
158         uint8_t res;
159
160         /* Get block number * 2 */
161         block = (int) (onenand_block(this, offs) << 1);
162         res = (bbm->bbt[block >> 3] >> (block & 0x06)) & 0x03;
163
164         MTDDEBUG (MTD_DEBUG_LEVEL2,
165                 "onenand_isbad_bbt: bbt info for offs 0x%08x: (block %d) 0x%02x\n",
166                 (unsigned int)offs, block >> 1, res);
167
168         switch ((int)res) {
169         case 0x00:
170                 return 0;
171         case 0x01:
172                 return 1;
173         case 0x02:
174                 return allowbbt ? 0 : 1;
175         }
176
177         return 1;
178 }
179
180 /**
181  * onenand_scan_bbt - [OneNAND Interface] scan, find, read and maybe create bad block table(s)
182  * @param mtd           MTD device structure
183  * @param bd            descriptor for the good/bad block search pattern
184  *
185  * The function checks, if a bad block table(s) is/are already
186  * available. If not it scans the device for manufacturer
187  * marked good / bad blocks and writes the bad block table(s) to
188  * the selected place.
189  *
190  * The bad block table memory is allocated here. It must be freed
191  * by calling the onenand_free_bbt function.
192  *
193  */
194 int onenand_scan_bbt(struct mtd_info *mtd, struct nand_bbt_descr *bd)
195 {
196         struct onenand_chip *this = mtd->priv;
197         struct bbm_info *bbm = this->bbm;
198         int len, ret = 0;
199
200         len = this->chipsize >> (this->erase_shift + 2);
201         /* Allocate memory (2bit per block) */
202         bbm->bbt = malloc(len);
203         if (!bbm->bbt) {
204                 printk(KERN_ERR "onenand_scan_bbt: Out of memory\n");
205                 return -ENOMEM;
206         }
207         /* Clear the memory bad block table */
208         memset(bbm->bbt, 0x00, len);
209
210         /* Set the bad block position */
211         bbm->badblockpos = ONENAND_BADBLOCK_POS;
212
213         /* Set erase shift */
214         bbm->bbt_erase_shift = this->erase_shift;
215
216         if (!bbm->isbad_bbt)
217                 bbm->isbad_bbt = onenand_isbad_bbt;
218
219         /* Scan the device to build a memory based bad block table */
220         if ((ret = onenand_memory_bbt(mtd, bd))) {
221                 printk(KERN_ERR
222                        "onenand_scan_bbt: Can't scan flash and build the RAM-based BBT\n");
223                 free(bbm->bbt);
224                 bbm->bbt = NULL;
225         }
226
227         return ret;
228 }
229
230 /*
231  * Define some generic bad / good block scan pattern which are used
232  * while scanning a device for factory marked good / bad blocks.
233  */
234 static uint8_t scan_ff_pattern[] = { 0xff, 0xff };
235
236 static struct nand_bbt_descr largepage_memorybased = {
237         .options = 0,
238         .offs = 0,
239         .len = 2,
240         .pattern = scan_ff_pattern,
241 };
242
243 /**
244  * onenand_default_bbt - [OneNAND Interface] Select a default bad block table for the device
245  * @param mtd           MTD device structure
246  *
247  * This function selects the default bad block table
248  * support for the device and calls the onenand_scan_bbt function
249  */
250 int onenand_default_bbt(struct mtd_info *mtd)
251 {
252         struct onenand_chip *this = mtd->priv;
253         struct bbm_info *bbm;
254
255         this->bbm = malloc(sizeof(struct bbm_info));
256         if (!this->bbm)
257                 return -ENOMEM;
258
259         bbm = this->bbm;
260
261         memset(bbm, 0, sizeof(struct bbm_info));
262
263         /* 1KB page has same configuration as 2KB page */
264         if (!bbm->badblock_pattern)
265                 bbm->badblock_pattern = &largepage_memorybased;
266
267         return onenand_scan_bbt(mtd, bbm->badblock_pattern);
268 }