]> git.kernelconcepts.de Git - karo-tx-uboot.git/blob - include/linux/mtd/bbm.h
Fix OneNAND read_oob/write_oob functions compatability
[karo-tx-uboot.git] / include / linux / mtd / bbm.h
1 /*
2  *  linux/include/linux/mtd/bbm.h
3  *
4  *  NAND family Bad Block Management (BBM) header file
5  *    - Bad Block Table (BBT) implementation
6  *
7  *  Copyright (c) 2005-2007 Samsung Electronics
8  *  Kyungmin Park <kyungmin.park@samsung.com>
9  *
10  *  Copyright (c) 2000-2005
11  *  Thomas Gleixner <tglx@linuxtronix.de>
12  *
13  * This program is free software; you can redistribute it and/or modify
14  * it under the terms of the GNU General Public License version 2 as
15  * published by the Free Software Foundation.
16  */
17 #ifndef __LINUX_MTD_BBM_H
18 #define __LINUX_MTD_BBM_H
19
20 /* The maximum number of NAND chips in an array */
21 #ifndef NAND_MAX_CHIPS
22 #define NAND_MAX_CHIPS          8
23 #endif
24
25 /**
26  * struct nand_bbt_descr - bad block table descriptor
27  * @param options       options for this descriptor
28  * @param pages         the page(s) where we find the bbt, used with
29  *                      option BBT_ABSPAGE when bbt is searched,
30  *                      then we store the found bbts pages here.
31  *                      Its an array and supports up to 8 chips now
32  * @param offs          offset of the pattern in the oob area of the page
33  * @param veroffs       offset of the bbt version counter in the oob are of the page
34  * @param version       version read from the bbt page during scan
35  * @param len           length of the pattern, if 0 no pattern check is performed
36  * @param maxblocks     maximum number of blocks to search for a bbt. This number of
37  *                      blocks is reserved at the end of the device
38  *                      where the tables are written.
39  * @param reserved_block_code   if non-0, this pattern denotes a reserved
40  *                      (rather than bad) block in the stored bbt
41  * @param pattern       pattern to identify bad block table or factory marked
42  *                      good / bad blocks, can be NULL, if len = 0
43  *
44  * Descriptor for the bad block table marker and the descriptor for the
45  * pattern which identifies good and bad blocks. The assumption is made
46  * that the pattern and the version count are always located in the oob area
47  * of the first block.
48  */
49 struct nand_bbt_descr {
50         int options;
51         int pages[NAND_MAX_CHIPS];
52         int offs;
53         int veroffs;
54         uint8_t version[NAND_MAX_CHIPS];
55         int len;
56         int maxblocks;
57         int reserved_block_code;
58         uint8_t *pattern;
59 };
60
61 /* Options for the bad block table descriptors */
62
63 /* The number of bits used per block in the bbt on the device */
64 #define NAND_BBT_NRBITS_MSK     0x0000000F
65 #define NAND_BBT_1BIT           0x00000001
66 #define NAND_BBT_2BIT           0x00000002
67 #define NAND_BBT_4BIT           0x00000004
68 #define NAND_BBT_8BIT           0x00000008
69 /* The bad block table is in the last good block of the device */
70 #define NAND_BBT_LASTBLOCK      0x00000010
71 /* The bbt is at the given page, else we must scan for the bbt */
72 #define NAND_BBT_ABSPAGE        0x00000020
73 /* The bbt is at the given page, else we must scan for the bbt */
74 #define NAND_BBT_SEARCH         0x00000040
75 /* bbt is stored per chip on multichip devices */
76 #define NAND_BBT_PERCHIP        0x00000080
77 /* bbt has a version counter at offset veroffs */
78 #define NAND_BBT_VERSION        0x00000100
79 /* Create a bbt if none axists */
80 #define NAND_BBT_CREATE         0x00000200
81 /* Search good / bad pattern through all pages of a block */
82 #define NAND_BBT_SCANALLPAGES   0x00000400
83 /* Scan block empty during good / bad block scan */
84 #define NAND_BBT_SCANEMPTY      0x00000800
85 /* Write bbt if neccecary */
86 #define NAND_BBT_WRITE          0x00001000
87 /* Read and write back block contents when writing bbt */
88 #define NAND_BBT_SAVECONTENT    0x00002000
89 /* Search good / bad pattern on the first and the second page */
90 #define NAND_BBT_SCAN2NDPAGE    0x00004000
91
92 /* The maximum number of blocks to scan for a bbt */
93 #define NAND_BBT_SCAN_MAXBLOCKS 4
94
95 /*
96  * Constants for oob configuration
97  */
98 #define ONENAND_BADBLOCK_POS    0
99
100 /*
101  * Bad block scanning errors
102  */
103 #define ONENAND_BBT_READ_ERROR          1
104 #define ONENAND_BBT_READ_ECC_ERROR      2
105 #define ONENAND_BBT_READ_FATAL_ERROR    4
106
107 /**
108  * struct bbt_info - [GENERIC] Bad Block Table data structure
109  * @param bbt_erase_shift       [INTERN] number of address bits in a bbt entry
110  * @param badblockpos           [INTERN] position of the bad block marker in the oob area
111  * @param bbt                   [INTERN] bad block table pointer
112  * @param badblock_pattern      [REPLACEABLE] bad block scan pattern used for initial bad block scan
113  * @param priv                  [OPTIONAL] pointer to private bbm date
114  */
115 struct bbm_info {
116         int bbt_erase_shift;
117         int badblockpos;
118         int options;
119
120         uint8_t *bbt;
121
122         int (*isbad_bbt) (struct mtd_info * mtd, loff_t ofs, int allowbbt);
123
124         /* TODO Add more NAND specific fileds */
125         struct nand_bbt_descr *badblock_pattern;
126
127         void *priv;
128 };
129
130 /* OneNAND BBT interface */
131 extern int onenand_scan_bbt (struct mtd_info *mtd, struct nand_bbt_descr *bd);
132 extern int onenand_default_bbt (struct mtd_info *mtd);
133
134 #endif                          /* __LINUX_MTD_BBM_H */